18680281884
广州至一科技有限公司
金发科技创新社区5栋335室(广州市天河区高普路38号)
info@to-one.com.cn
FEI Apreo S LoVac场发射扫描电子显微镜隔振方案
ArisMD300主动隔振系统
背 景:应用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜成像检测,是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台。
使用单位:厦门稀土材料研究所
地 点:福建省厦门市集美区兑山西珩路258号
仪器型号:FEI Apreo S LoVac
隔振方案:ArisMD300主动隔振系统
FEI Apreo S LoVac场发射扫描电子显微镜ArisMD300主动隔振系统应用安装图 |
成像测试:
Apreo S 电镜扫描图像65万倍对比(安装ArisMD300前后) |