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FEI Apreo S LoVac场发射扫描电子显微镜隔振方案

作者:至一科技 日期:2021-01-03 点击:2545
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FEI Apreo S LoVac场发射扫描电子显微镜隔振方案

ArisMD300主动隔振系统


背       景:应用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜成像检测,是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台。

使用单位:厦门稀土材料研究所

地      点:福建省厦门市集美区兑山西珩路258号

仪器型号:FEI Apreo S LoVac

隔振方案:ArisMD300主动隔振系统


ARISMD300主动隔振台.jpg

厦门稀土研究所赛默飞Spreo S SEM01.jpg

FEI Apreo S LoVac场发射扫描电子显微镜ArisMD300主动隔振系统应用安装图

成像测试:

Spreo S SEM成像图01.jpg

Spreo S SEM成像图02.png

Apreo S 电镜扫描图像65万倍对比(安装ArisMD300前后)