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FEI Apreo S LoVac场发射扫描电子显微镜隔振方案
ArisMD300主动隔振系统
背 景：应用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜成像检测，是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台。
使用单位：厦门稀土材料研究所
地 点：福建省厦门市集美区兑山西珩路258号
仪器型号：FEI Apreo S LoVac
隔振方案：ArisMD300主动隔振系统
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| FEI Apreo S LoVac场发射扫描电子显微镜ArisMD300主动隔振系统应用安装图 | |
成像测试：
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Apreo S 电镜扫描图像65万倍对比（安装ArisMD300前后） | |
